SiC紫外光电二极管-UVC 0.1mm²
SiC紫外光电二极管-UVC 0.1mm²

SiC可以承受高强度的辐射,并具有近乎完美的可见光的光盲、暗电流低,响应速度快和噪音低的特性。这使得SiC成为制备可见光光盲紫外探测器的最佳使用材料。定制款IFW的SiC探测器可以在温度高达250°C的环境下长期工作。

UVC的紫外波段位于225-280nm.通过特定的滤光片,紫外波段可以延长至228-322 nm。芯片尺寸0.1 mm².

品牌:德国IFW

型号:JEA0,1C-S; JEAC0,1C-S; JEA0,1C-ISZ


产品介绍

品牌介绍:

IFW致力于基于Si硅和SiC碳化硅的光电二极管的研发和生产. 公司创立30多年来,产品行销于世界各地,甚至在美国宇航局“好奇号”火星探测器上使用。

 

产品特征:

  碳化硅(SiC)材料
   
芯片有效面积0.1 mm²
   
光谱响应范围从225280nm,峰值波长265 nm
   
芯片稳定性高
   TO-18
封装
   
可选配聚光透镜

光谱图:

 0.1 UVA,UVB,UVC光谱图.jpg

技术参数:

芯片面积

0.1 mm2

峰值波长的典型响应度Smax

0.18A/W

最大光谱响应的波长(λmax

265nm

波长范围(S=0.1*Smax

225-280nm

可见盲区(Smax/S>405nm

>1010

暗电流(1V反向偏压)Id

10fA

电容C

30pF

工作温度

-40+125

储存温度

-40+125

焊接温度(3S

260

反向电压VRmax

10V

附注:

其他可选芯片面积

0.1 mm²;0.25 mm²;2 mm²;5 mm²;

其他可选波段

318-395nm; 265-322nm; 280-395 nm; 228-322 nm;   240-290 nm300-400 nm

 

典型应用:

工业锅炉等火焰检测
水处理
臭氧和污染物监测
太阳光中的紫外线强度检测
紫外线灯管的紫外线强度检测